В России создан комплекс для определения подлинности и чистоты алмазов.

Российские учeные создали уникальный комплекс спектрального анализа, который позволяет определять подлинность и чистоту алмазов. Разработка превосходит другие методы и не создает помех в интерпретации дефектов утвер­ж­да­ют ис­сле­до­ва­те­ли. Ко­м­плекс поз­во­ля­ет от­ли­чить при­род­ный ал­маз от син­те­ти­че­ско­го, уста­но­вить на­ли­чие в ка­м­не при­ме­сей, его при­год­ность для ис­поль­зо­ва­ния в де­тек­то­рах тя­жe­лых за­ря­жен­ных ча­стиц и ней­тро­нов, твер­до­тель­ных ла­зе­рах вы­со­кой мо­щ­но­сти, а та­к­же для по­лу­че­ния вы­со­ко­ка­че­ствен­ных бри­л­ли­ан­тов.

Тех­но­ло­гия поз­во­ля­ет без по­мех и де­фек­тов опре­де­лять ва­ж­ные ха­ра­к­те­ри­сти­ки ал­ма­зов. Ис­сле­до­ва­те­ли впе­р­вые объ­е­ди­ни­ли в еди­ный ко­м­плекс три ти­па спе­к­траль­но­го ана­ли­за: ра­ма­но­в­скую и ИК-Фу­рье-с­пе­к­тро­ско­пию, а та­к­же спе­к­тро­фо­то­мет­рию.

Как утвер­ж­да­ют раз­ра­бо­т­чи­ки, эти спо­со­бы не вли­я­ют на объ­ект ис­сле­до­ва­ния и не из­ме­ня­ют его свой­ства. При этом они не тре­бу­ют сло­ж­ной под­го­то­в­ки и при ис­поль­зо­ва­нии в ко­м­плек­се су­ще­ствен­но пре­вос­хо­дят дру­гие рас­про­странeн­ные ме­то­ди­ки, ко­то­рые име­ют ряд не­до­стат­ков.

С по­мо­щью но­во­го ко­м­плек­са спе­к­траль­но­го ана­ли­за, по­ми­мо опре­де­ле­ния под­лин­но­сти и чи­сто­ты при­род­ных ал­ма­зов, та­к­же мо­ж­но вы­явить все ха­ра­к­те­ри­сти­ки ма­те­ри­а­лов, не­об­хо­ди­мых для по­лу­че­ния ка­че­ствен­ных ис­кус­ствен­ных ал­ма­зов путeм хи­ми­че­ско­го оса­ж­де­ния из па­ра на под­ло­ж­ки (ал­маз­ные пла­сти­ны), утвер­ж­да­ют учe­ные.

По­лу­чен­ные бла­го­да­ря но­во­му ко­м­плек­су дан­ные поз­во­ля­ют от­би­рать ал­маз­ные под­ло­ж­ки для про­из­вод­ства вы­со­ко­ка­че­ствен­ных бри­л­ли­ан­тов мас­сой пол­то­ра ка­ра­та, утвер­ж­да­ют учe­ные. Та­к­же с по­мо­щью раз­ра­бо­тан­ной тех­но­ло­гии уже из­го­то­в­ле­ны уни­каль­ные ал­маз­ные ма­те­ри­а­лы для при­ме­не­ния в на­уч­ных при­бо­рах — де­тек­то­рах тя­жe­лых за­ря­жен­ных ча­стиц и ней­тро­нов и твер­до­тель­ных ла­зе­рах вы­со­кой мо­щ­но­сти.